TREVISTA CI DOME 基于AI表面检测的先进成像系统
Trevista CI Dome 是基于硬件和软件相结合的成像形式和检测方案。Trevista CI Dome 发挥 VisionPro 软件的强大功能,增强了对表面亮光或哑光零件的检测过程。VisionPro 内置的 Trevista 视觉工具采用专利型“从明暗恢复形状”技术,快速合成高质量的拓扑图像。借助基于 AI 的集成视觉工具来分析表面缺陷,区分外观缺陷与重大缺陷。
◼ 无与伦比的图像质量
“从明暗恢复形状”技术往往依赖环形灯或多个灯条,由于照明角度不佳,缺陷细节难以充分显露。Trevista CI Dome 成像更为细腻,能从各个角度照亮组件,显露更多缺陷。利用从不同照明象限生成的一系列图像,获得专利的 Trevista“从明暗恢复形状”算法可以创建出质量更高、可重复性更强的合成图像集,从而实现更强大的检测流程。

◼ 图像处理更快速
高产量制造商需要快速的生产速度,保障卓越的零件品质,并最大限度地提高产量和效率。Trevista CI Dome 能够捕获和合成零件表面的拓扑图像,从而提高效率和产能,速度比其他计算成像的解决方案快两倍。Trevista CI Dome 采用 VisionPro 中的“从明暗恢复形状”工具以及漫射穹顶照明,无论产品朝向或位置如何,都能以非常高的速度合成不同廓形零件的高质量拓扑图像,进而缩短每个零件所需的检测时间。

◼ 高度详细的表面可视化
制造商通常会接受高于预期的零件过杀率,以确保质量和产能目标,由此导致更多报废和更高成本。穹顶漫射光从每个角度捕获反射光,更有效地照亮凹凸形状,从而更准确地捕获表面坡度信息。基于AI的视觉工具使用此信息,对表面缺陷的严重程度进行分类。评估和分类缺陷严重程度有助于减少过杀,降低报废率和成本。

◼ 理想的应用领域
Trevista CI Dome 借助强大的“从明暗恢复形状”技术,检测反光和哑光表面上的细微缺陷。Trevista CI Dome 是检测允许非常小范围容差的亮光或哑光零件的理想之选,例如电动汽车 (EV) 电池和 PCB 组件。

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